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图片 名称/价格/厂家 参数 详细资料
名称:上海仪电物光WJL-608型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-608
是否有现货:
详细介绍: 分析仪采用全量程米氏散射理论。 1、测量范围:0.02~1200微米 2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50) 重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50) 电气要求:交流220±10V,50Hz, 200W 外观尺寸:1000×... 详细
名称:上海仪电物光WJL-606型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-606
是否有现货:
详细介绍: 激光粒度仪采用全量程米氏散射理论。 1、测量范围:0.05~800微米 2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50) 重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50) 电气要求:交流220±10V,50Hz, 200W 外观尺寸:1000×330×32... 详细
名称:上海仪电物光WJL-616型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-616
是否有现货:
详细介绍: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据该规律反演出... 详细
名称:上海仪电物光WJL-628型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-628
是否有现货:
详细介绍: 工作原理: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根... 详细
名称:上海仪电物光WJL-622型激光粒度仪
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型号:WJL-622
是否有现货:
详细介绍: 工作原理: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据... 详细
名称:上海仪电物光WJL-626型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-626
是否有现货:
详细介绍: 工作原理: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根... 详细
名称:上海仪电物光WJL-612型激光粒度仪
市场价格:
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型号:WJL-612
是否有现货:
详细介绍: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据该规律反演出... 详细
名称:上海仪电物光WKL-722粉尘形貌分散度测试仪
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型号:WKL-722
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工作原理 WKL-722粉尘形貌分散度测试仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行粉尘分散度分析和粒度测量的粉尘分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和粉尘分散度处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的粉尘图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的粉尘分散度处理分... 详细
名称:上海仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪
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型号:WKL-702
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工作原理: WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软... 详细
名称:上海仪电物光WBL系列全自动比表面积及孔隙度分
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型号:WBL系列
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WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品管后,会引起压力下降,由此计算吸附平衡时被吸附气体的摩尔质量。... 详细
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