产品列表
| 图片 | 名称/价格/厂家 | 参数 | 详细资料 |
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名称：上海仪电物光WSF-J分光测色仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WSF-J 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： WSF-J分光测色仪是一种性能优越、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色，可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/8。它可以显示可见光波段（380nm~760nm）中物体或液体的反射比与透射比，可给出物... 详细 |
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名称：上海仪电物光WSF-J分光测色仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WSF-J 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： WSF-J分光测色仪是一种性能优越、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色，可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/8。它可以显示可见光波段（380nm~760nm）中物体或液体的反射比与透射比，可给出物... 详细 |
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名称：上海仪电物光WSF分光测色仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WSF 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： WSF分光测色仪是一种性能优越、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色，可以测试物体的白度、色度以及两种物体的色差。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/0。它可以显示可见光波段（400nm~700nm）中物体的反射比与透射比，并可通过接口与电脑通... 详细 |
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名称：上海仪电物光 WSC-S测色色差计 市场价格: 优惠价格： |
型号： WSC-S 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： WSC-S 测色色差计是一种性能优越，用途广泛而又操作方便的测色仪，适用于测定各种物体的反射色，可以测试物体的白度、色度以及两种物体的色差，它配用的几何条件的测试头，即CIE 规定的0／d 。WSC-S 测色色差计台式便携式二用，数字显示，并可打印。该仪器可广泛应用于纺... 详细 |
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名称：上海仪电物光WSB-L白度计 市场价格: 优惠价格： |
型号：WSB-L 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 仪器用于测定纸张、建筑材料、淀粉、麦粉、食用白糖、食盐等的兰光白度。仪器为手动校零校标的仪器。适合中小型企业应用。 性能指标 测量范围：0～120 照明方式：45/0 峰值波长：457nm 稳定性：±0.2 重复性：0.3 示值误差：±1.5%... 详细 |
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名称：上海仪电物光WBL系列全自动比表面积及孔隙度分 市场价格: 优惠价格： |
型号：WBL系列 是否有现货： |
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准，依据静态容量法测量原理，通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程，测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品管后，会引起压力下降，由此计算吸附平衡时被吸附气体的摩尔质量。... 详细 |
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名称：上海仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WKL-702 是否有现货： |
工作原理： WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分... 详细 |
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名称：上海仪电物光WKL-722粉尘形貌分散度测试仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WKL-722 是否有现货： |
工作原理 WKL-722粉尘形貌分散度测试仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行粉尘分散度分析和粒度测量的粉尘分析系统，由光学显微镜、数字CCD摄像机和粉尘分散度处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的粉尘图像拍摄下来传输给电脑，通过专用的粉尘分散度处... 详细 |
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名称：上海仪电物光WJL-612型激光粒度仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WJL-612 是否有现货： |
详细介绍： 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律... 详细 |
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名称：上海仪电物光WJL-626型激光粒度仪 市场价格: 优惠价格： |
型号：WJL-626 是否有现货： |
详细介绍： 工作原理： 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布... 详细 |