| 图片 | 名称/价格/厂家 | 参数 | 详细资料 |
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名称：上海仪电物光WZZ-3自动旋光仪 市场价格： 优惠价格： |
型号：WZZ-3 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 采用光电检测和微机控制技术，大屏幕背光液晶显示，可测试比旋度、旋光度、糖度、可自动复测6次并计算均值和均方根，配有RS232接口，可向PC机传送数据。 性能指标 测量范围 旋光度：-45°- +45° 糖 度：-120°Z - +120°Z（糖度） 最小读数... 详细 |
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名称：上海仪电物光WZZ-2S数字式自动旋光仪/2SS自动旋光 市场价格： 优惠价格： |
型号：WZZ-2S 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 采用国内最先进的数字电路及微机控制技术，背光液晶显示，测试数据清晰静观，保存三次复测结果，并计算平均值，可测深色样品，配有RS232接口，可向PC机传送数据。 性能指标： 测量范围 旋光度：2S:-45°- +45° 2SS：-120°Z - +120°Z（糖... 详细 |
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名称：上海仪电物光WXG-4目视旋光仪 市场价格： 优惠价格： |
型号：WXG-4 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 采用目视瞄准，手动测量的方法，使用简便。 性能指标 测量范围：-180°～＋180° 最小读数值：0.05° 准确度：0.05° 灵敏度：0.05° 目镜放大倍率：4X... 详细 |
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名称：上海仪电物光SGW®-5自动旋光仪（多波长） 市场价格： 优惠价格： |
型号：SGW®-5 是否有现货： |
详细介绍： 主要技术参数 测量模式：旋光度、比旋度、浓度、糖度 光源：20W卤钨灯 工作波长：405 nm 、436nm 、546.07nm、578nm、589nm、6323nm 可选 测量范围：±89.999° 最小读数：0.001° 示值误差：±0.01°（... 详细 |
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名称：上海仪电物光sgw®-731自动阿贝折射仪 市场价格： 优惠价格： |
型号：sgw®-731 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： sgw®-731自动阿贝折射仪是能测量透明、半透明液体的折射率nD和糖溶液的质量分数（Brix）的仪器。具有友好的操作界面、自动测量、测试速度快、重复性好、有温度修正功能，体积小巧，数据存储和打印功能。 特点： 全自动测量，避免了人为误差； 操作方便，测试速度快... 详细 |
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名称：上海仪电物光WYA阿贝折射仪(单目) 市场价格： 优惠价格： |
型号：WYA 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 测定液体或固体的折射率和糖水溶液中干固物的质量分数即锤度Brix,可以用于制糖、制药、饮料、石油、食品、化工工业生产、科研、教育部门的检测分析。采用目视瞄准，光学度盘读数，简单可靠。 性能指标： 折射率nD：1.3000-1.7000 糖溶液质量分散(Brix)... 详细 |
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名称：上海仪电物光WYA-2S数字阿贝折射仪 市场价格： 优惠价格： |
型号：WYA－2S 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 测定液体或固体的折射率nD和糖水溶液中干固物的百分含量即Brix，采用目视瞄准，背光液晶显示，测定锤度时进可进行温度修正，棱镜采用硬质玻璃，不易磨损。配有标准打印接口，可直接打印输出数据。 性能指标： 测量范围： 折射率nD：1.3000-1.7000 测量范围... 详细 |
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名称：上海仪电物光WYA-2W阿贝折射仪(双目) 市场价格： 优惠价格： |
型号：WYA-2W 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 测定液体或固体的折射率和糖水溶液中干固物的质量分数即锤度Brix,可以用于制糖、制药、饮料、石油、食品、化工工业生产、科研、教育部门的检测分析。采用目视瞄准，光学度盘读数，简单可靠。 特点： 测定液体和固体的折射率nD、平均色散（nF~nC） 和糖水溶液中干固体的... 详细 |
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名称：上海仪电物光WYV V棱镜折射仪（光学式） 市场价格： 优惠价格： |
型号：WYV V 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： 测定透明或半透明液体和固体的折射率，平均色散或部分色散，是光学仪器厂及有关科研单位、高等院校必备仪器。采用目测瞄准，显微读数，测速快、精度高、使用方便，操作简单。 特点： 本仪器可用来对透明或半透明固体和液体物质的折射率，平均色散和部分色散进行快速精确地测定(即能... 详细 |
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名称：上海仪电物光sgw®-733自动阿贝折射仪 市场价格： 优惠价格： |
型号：sgw®-733 是否有现货： |
详细介绍： 应用范围： sgw®-733自动阿贝折射仪是能测量透明、半透明液体的折射率nD和糖溶液的质量分数（Brix）的仪器。具有友好的操作界面、自动测量、测试速度快、重复性好、有温度修正功能，体积小巧，数据存储和打印功能。配有半导体制冷加热装置。 特点： 全自动测量，避免了人为误差；... 详细 |